作为分析仪器中目前检测金属元素的常用的方法一般有以下几种：原子荧光、原子吸收、分光光度法、XRF分析法，ICP及ICP-MS法等。目前土壤检测分析，主要也是检测土壤中重金属含量，现在来看X荧光光谱仪是非常适合用来土壤检测的。

      虽然ICP光谱仪检测范围更广，灵敏度更高，但是因为仪器较大，对于现场使用条件还是相对苛刻一点，而X荧光光谱仪手持式仪器也已经在市面上广泛流传，而前段时间，国家关于863计划项目之“高精度手提式X荧光仪的研发”编号为：2012AA06180301更是推动了手持式荧光光谱仪的应用。

     采用X荧光光谱分析法，利用理论α系数校正基体效应，建立Cu、Cr、Ni、Zn、As、Pb六种元素的校正工作曲线。其各元素的校正系数为：Cr对SiO2的α系数为0.3112，对Fe2O3的α系数为0.2711，对CaO的α系数为3.1803；Ni对Fe2O3的α系数为-0.7443，对CaO的α系数为-0.1252；Cu对Fe2O3的α系数为-0.8223，对CaO的α系数为-0.2943；Pb对Fe2O3的α系数为-0.5052，对CaO的α系数为-0.1167；Zn对Fe2O3的α系数为-0.63，对CaO的α系数为-0.1153；As对于Pb的重叠干扰因子校正系数为0.295285。对Fe2O3的α系数为-0.0001，对CaO的α系数为-0.0001。

     利用荧光光谱仪对突然污染情况进行分析，并建立好完善的X荧光光谱分析模型，通过数据来分析土壤污染情况，对整个土壤的治理有着至关重要的一步。